紫外辐照计

一、产品介绍
该款紫外辐照计采用 SMT 贴片技术，选用高精度低功耗数字芯片，仪器外壳为流线型设计，探测器经过严格的光谱及角度特性校正，性能稳定，适用性强。适用于光化学、高分子材料老化、紫外光源、以及大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。

二、产品参数
1、波长范围及峰值波长：(以下两种选其一)
（1）UV-340 探头：λ：(315～370)nm；λP＝340nm
（2）UV-313 探头：λ：(290～340)nm；λP＝313nm辐照度测量范围：(0.1～199.9×103) μW/cm2
2、紫外带外区杂光：UV313：小于 0.05%
UV340：小于 0.05%
3、相对示值误差：±8%（相对与 NIM 标准）
4、余弦特性（方向性响应）误差：±10%
5、线性误差：±1%
6、换档误差：±1%
7、短期不稳定性：±1%（开机 30min 后）
8、疲劳特性：衰减量小于 2%
9、零值误差：满量程的±1%
10、响应时间：1 秒
11、使用环境： 温度(0～40)℃，湿度＜85%RH
12、尺寸和重量：160mm×78mm×43mm；0.2kg
13电源： 常规使用 6F22 型 9V 积层电池一只亦可使用数据线连接 USB 接口、5V 电源适配器供电,整机功耗＜0.1VA

三、产品特点
1、光谱及角度特性经严格校正
2、数字液晶显示，带背光
3、手动/自动量程切换
4、数字输出接口（USB,冗余供电）
5、低电量提醒
6、自动延时关机
7、有数字保持

8、轻触按键操作，蜂鸣提示

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